高(gao)低(di)溫試驗(yan)箱(xiang)按照設(she)定的(de)目(mu)(mu)標(biao)溫度(du)值運行(xing)，最終達到(dao)目(mu)(mu)標(biao)溫度(du)并(bing)保持連續穩定。很(hen)多時候用(yong)(yong)戶會發覺高(gao)低(di)溫試驗(yan)箱(xiang)降溫特別(bie)緩(huan)慢(man)，甚至無法到(dao)達設(she)定目(mu)(mu)標(biao)溫度(du)，究竟是什么原(yuan)因引起(qi)高(gao)低(di)溫試驗(yan)箱(xiang)降溫緩(huan)慢(man)的(de)呢?高(gao)天試驗(yan)設(she)備的(de)工作(zuo)人員(yuan)針對(dui)這一(yi)故障問題(ti)(ti)進行(xing)分析(xi)解答，希(xi)望(wang)廣大用(yong)(yong)戶通過本文(wen)的(de)閱(yue)讀來掌握相(xiang)關知識，方便(bian)自(zi)己在使用(yong)(yong)高(gao)低(di)溫試驗(yan)箱(xiang)時能夠準(zhun)確(que)的(de)找(zhao)到(dao)設(she)備故障問題(ti)(ti)，便(bian)于進一(yi)步(bu)解決問題(ti)(ti)。

　　高低溫試驗箱降溫慢的原因：

　　1、檢查(cha)制(zhi)冷(leng)系統：首先檢查(cha)兩組制(zhi)冷(leng)機(ji)組的(de)低溫(R23)級壓(ya)縮機(ji)的(de)排氣(qi)和吸氣(qi)壓(ya)力(li)都較正常值偏低，而且吸氣(qi)壓(ya)力(li)呈(cheng)抽空狀態，說明(ming)主(zhu)制(zhi)冷(leng)機(ji)組的(de)制(zhi)冷(leng)劑量不(bu)足。

　　2、檢查冷(leng)(leng)凝(ning)器(qi)(qi)散熱片：高(gao)低(di)溫試驗箱(xiang)長(chang)期未保(bao)養，冷(leng)(leng)凝(ning)器(qi)(qi)散熱片上灰塵過多，導致散熱效率降低(di)。打開冷(leng)(leng)凝(ning)器(qi)(qi)前段蓋板(ban)，用工具清(qing)理冷(leng)(leng)凝(ning)器(qi)(qi)上的灰塵。

　　3、固態(tai)(tai)繼電(dian)器(qi)擊穿(chuan)：部(bu)(bu)分固態(tai)(tai)繼電(dian)器(qi)擊穿(chuan)(如加熱有(you)(you)2個固態(tai)(tai)繼電(dian)器(qi)，有(you)(you)1個擊穿(chuan))導致一部(bu)(bu)分加熱管在加熱，抵消了(le)部(bu)(bu)分制(zhi)冷量(liang)，從而造成降溫慢的假象。

　　4、檢查(cha)風(feng)(feng)機(ji)(ji)：觀察風(feng)(feng)機(ji)(ji)在試(shi)驗箱運行過(guo)程(cheng)中是(shi)否能夠啟(qi)動(dong)，如風(feng)(feng)機(ji)(ji)在試(shi)驗箱運行過(guo)程(cheng)中都能夠啟(qi)動(dong)，說明風(feng)(feng)機(ji)(ji)正常。

　　5、檢查試(shi)(shi)驗工件是否是帶電測試(shi)(shi)，并測出帶電測試(shi)(shi)時工件的發熱量，如(ru)發熱量在(zai)300W以內(nei)對于(yu)試(shi)(shi)驗箱沒有影響，但(dan)是發熱量過大會使箱內(nei)溫度降溫緩(huan)慢無法(fa)達到儀表設(she)定置或不制冷。

　　以(yi)上幾點(dian)可能就是(shi)造成高低溫試(shi)驗箱降(jiang)溫慢(man)的(de)原(yuan)因，當然(ran)大家(jia)在使用的(de)過程中，也(ye)(ye)許會(hui)發(fa)現是(shi)別(bie)的(de)原(yuan)因，到時(shi)候(hou)也(ye)(ye)可以(yi)分享給我們，大家(jia)一起(qi)學習交(jiao)流。