高低(di)溫試(shi)(shi)驗(yan)箱是在溫度(du)的基礎(chu)上加(jia)濕熱系統,使溫度(du)也能進行濕度(du)試(shi)(shi)驗(yan),使試(shi)(shi)驗(yan)效(xiao)果(guo)更(geng)接近自然氣(qi)候(hou),模擬更(geng)惡劣的自然氣(qi)候(hou),使樣(yang)品的可靠性更(geng)高。下面高天試(shi)(shi)驗(yan)設備小編來說說高低(di)溫試(shi)(shi)驗(yan)箱樣(yang)品測試(shi)(shi)的流程。

高低溫試驗箱樣品測試的流程如下:
測試準備階段(duan):將被測樣(yang)品(pin)(pin)放(fang)置在正常的試驗空氣中,直(zhi)至溫度穩定。將被測樣(yang)品(pin)(pin)與標準要(yao)求進(jin)行對照,符合(he)要(yao)求后直(zhi)接(jie)放(fang)入試驗箱。
進行樣品測試:
1、被測(ce)樣(yang)品應按標準(zhun)要求放置(zhi)在試(shi)(shi)驗箱內,設置(zhi)測(ce)試(shi)(shi)條件,使(shi)箱內溫度(du)升至(zhi)相應溫度(du),保持一段時(shi)間(jian)直(zhi)至(zhi)被測(ce)樣(yang)品到(dao)溫度(du)穩定,高溫測(ce)試(shi)(shi)時(shi)間(jian)以標準(zhun)為準(zhun)。
2、高溫測試結束(shu)后,在5分(fen)鐘內將試樣移動(dong)至(zhi)箱內,保(bao)持(chi)一段時間或直到試樣溫度穩定為止,具體以測試標準為準。
3、低溫階段結束后,在5分(fen)鐘內將(jiang)樣(yang)品移動至箱(xiang)內,保持一段時間或直到(dao)試樣(yang)溫度穩(wen)定為(wei)止(zhi),具體以(yi)測試標準為(wei)準。
4、重(zhong)復(fu)上述實(shi)驗方法(fa),完成三個循(xun)環周期(qi)。根(gen)據(ju)樣(yang)品的(de)大(da)小(xiao)和空間(jian)的(de)大(da)小(xiao),時間(jian)可能會稍有誤差(cha)。
測試(shi)結(jie)束分析(xi):試(shi)樣(yang)從試(shi)驗箱中取出后,應在正常(chang)試(shi)驗大氣條件(jian)下恢復,直至試(shi)樣(yang)溫(wen)度穩(wen)定。根(gen)據標準中的(de)損傷程度和其他方(fang)法評定檢(jian)查結(jie)果。
以上就是關于高低溫試驗箱樣(yang)品的測試流程,高低溫試驗(yan)箱(xiang)適用于各類電子、電工、電器、塑膠、光纖、LED、晶體、電感、PCB、電池、電腦(nao)、手機等(deng)產品。

